1.激光塵埃粒子計數(shù)器  型號：HAD-LJ350T

激光塵埃粒子計數(shù)器HAD-LJ350T本儀器是根據(jù)新版GMP（2010版）的要求,該產(chǎn)品整體體采用316L不銹鋼制作的外殼。激光傳感器采用半導體激光器及半導體光敏二管接收器，確保光源的穩(wěn)定性和信號接收器的準確度。大大減少了散射腔內(nèi)的雜散射光，提了傳感器的信噪比。采用LCD液晶觸摸屏控制，使的顯示數(shù)據(jù)清晰，操作方便。該儀器可根據(jù)客戶選擇的標準，自動判斷出各種凈化等。該產(chǎn)品廣泛應用于療，制藥，電子，化學，光學，食品，化妝品，生物制品，航空航天及各種檢測機構(gòu)用作塵埃粒子的檢測.

HAD-LJ350T主要參數(shù)：
光源 半導體激光器, 壽命大于10年>30000h
采樣量 50L/min （1.77ft3）  口氣泵
顯示方式 155×85mm分辨率液晶觸摸屏顯示（LCD） 中文界面、實時顯示、上周期顯示、實時濃度顯示、可顯示時間、日期、測量值、溫濕度、房間號、采樣點、采樣次數(shù)、狀態(tài)等參數(shù)、 95% UCL 計算, 可直接顯示粒子濃度 (顆/立方米)
供電電源 內(nèi)置鋰電池 
作時間 2 小時
計數(shù)模式 累計值，差值，濃度值
測試方式 單、重復、連續(xù)、計算、遠程、
單位換算 單位可換算成m3
粒徑通道 0.3 、 0.5、 1.0、3.0、 5.0、 10.0μm, 或0.5, 1, 3, 5, 10, 25 μm六檔粒徑同時計數(shù).粒徑可根據(jù)客戶需要訂制
采樣周期 1～9999 (S)      延時計數(shù)：0～99（S ）     自凈時間：≤10 （min ） 
作環(huán)境 溫度:0～40℃ (50～104℉)      相對溫度:20～90%RH,無凝露.      大氣壓力：86-106KPa
溫濕度： 選購   （1）溫度：0～50℃±1℃.    （2）濕度：0～RH±5%
UCL設(shè)置 采樣點數(shù)（A）：2～9點設(shè)定。 每點采樣次數(shù)：（L）2～9次設(shè)定      測量位置：0-999
UCL報表 符合ISO14644-1、GB50073-2001、 GMP(2010)
數(shù)據(jù)存儲 可存儲1000組數(shù)據(jù)（循環(huán)式緩沖區(qū)）(包括粒徑、數(shù)據(jù)、環(huán)境數(shù)據(jù)、年、月、日、時間，采樣量，數(shù)據(jù)位置口)，斷電后數(shù)據(jù)不丟失。
通訊接口 RS232，9600波率
報警設(shè)置 儀器帶別報警能，可對潔凈室100，1000，10000，100000，300000，1000000標后報警, 同時符合新版GMP標準的A/B/C/D四個別靜態(tài)和動態(tài)標準的測量 /四種標準切換測量  
零計數(shù) 符合JJF-1190-2008塵埃粒子計數(shù)器計量校準規(guī)范及 JIS B9921:2010     每五分鐘少于1個
重疊誤差 5 %，2,000,000粒/立方英尺時
打印能 熱敏打印機
重量 8kg
校準 可滿足JJF-1190-2008塵埃粒子計數(shù)器計量校準規(guī)范及ISO/FDIS21501-4：2007（E）潔凈室光散射塵埃粒子計數(shù)器校準方法，可追溯至上海計量測量研究院也可自行行校準或三方家計量機構(gòu)行校準，也可追溯美家標準協(xié)會（NIST），,我公司已通過家計量建標考核，我公司的標準塵埃粒子計數(shù)器已參加了各省計量機構(gòu)參與的塵埃粒子計數(shù)器量值比對，并為相關(guān)計量檢測機構(gòu)作為行塵埃粒子計數(shù)器計量校準作時的標準粒子計數(shù)器使用。
標準配置 業(yè)等動力采樣頭、帶采樣管的采樣支架、USB轉(zhuǎn)RS 232模塊、RS 232連接線、電腦連接通訊軟件光盤,內(nèi)置打印機, 鋁合金箱、操作手冊、出廠檢測報告、零計數(shù)過濾器、充電器、采樣架、打印紙。
外形尺寸 230×230×230（mm）

2.雙棱鏡光干涉實驗儀      型號；HAD-FD-FBI-B

1826年法家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(納米量)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量巧,具有很深的教學價值。本雙棱鏡光干涉實驗儀具有以下優(yōu)點：

1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源，半導體激光經(jīng)大幅度降低光強處理，用其作光源具有相干性且不傷害眼睛的優(yōu)點，可很方便調(diào)出圖像清晰干涉條紋，也為鈉光干涉條紋調(diào)節(jié)帶來方便，測量二種光的波長行。

2.導軌和轉(zhuǎn)盤采用強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料、燕尾槽結(jié)構(gòu)、轉(zhuǎn)盤靈活、不會生銹、經(jīng)久耐用、手感好。

3．帶有黑色擋光罩，可在白光及通風條件下做光學實驗。

本儀器可供大院校基礎(chǔ)物理實驗和性研究性物理實驗。

應用本儀器可以成以下實驗：

1．觀察雙棱鏡的干涉現(xiàn)象。

2．測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。

3．觀察其他光源的雙棱鏡光干涉現(xiàn)象。

儀器主要參數(shù)：

1．導軌 長80.0cm，分度值1mm；滑塊5只，其中1個滑塊上帶轉(zhuǎn)動裝置。

2．帶轉(zhuǎn)盤的狹縫 縫寬約0.04mm。

3．測微目鏡和支架 測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm。

4．光源 半導體激光器，光波長650.0nm，已大幅度衰減光強。作電壓直3V。

5．鈉光燈及電源（選配）。

3.單絲和單縫衍射實驗儀       型號；HAD-FD-OE-5

單絲、單縫和小孔衍射實驗是校理科基本光學實驗之。本儀器用半導體激光器為光源，觀察單絲、單縫和圓孔的夫瑯和費衍射現(xiàn)象，以及絲徑、縫寬、孔徑的變化對衍射的影響，加深對光的衍射理論的理解，并利用衍射花樣測定單絲的直徑和單縫寬度。本儀器有以下優(yōu)點：

　　1．光具座用強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料制成，表面經(jīng)陽氧化處理，儀器重量輕，體積小，經(jīng)久耐用，不生銹，使用壽命長。

　　2．配有各種直徑的單絲(包括用支架)、小孔和不同縫寬的單縫，觀察各種衍射現(xiàn)象，物理現(xiàn)象明顯。采用非接觸測量方法，測量金屬絲直徑和細縫縫寬的準確度較。

　　3．光具座的滑塊可離開導軌自由在桌面上移動，以增加白色象屏與單絲(或單縫)距離，用米尺可準確測出它們之間距離(滑塊與導軌經(jīng)門)。

　　應用本儀器可以成以下實驗：

　　1．用于基礎(chǔ)物理實驗作光衍射實驗用。

　　2．作性與綜合性學生物理實驗。

　　3．可用于課堂光衍射實驗及自學物理實驗。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1．光具座 底座長度50.0cm，其分度值1mm，底座質(zhì)量2.5Kg。（長度可定做）

　　2．滑塊三只，滑塊側(cè)面有門刻線，便于測量屏到縫的直線距離。

　　3．單絲、小孔和狹縫支架個。

　　4．半導體激光器及用電源，激光波長650nm，激光器作直電壓3V。

4.太陽能電池性測定儀      型號；HAD-FD-OE-4

　能源的重要性人人皆知，為了經(jīng)濟持續(xù)發(fā)展及環(huán)境保護，人們正大量開發(fā)其它能源如水能、風能及太陽能的利用。其中以硅太陽能電池作為綠色能源其開發(fā)和利用大有發(fā)展前景。本儀器提供的實驗，意在提學生對太陽能電池的性的認識，學習研究太陽能電池的基本光電性，學會電學與光學的些重要實驗方法及數(shù)據(jù)處理方法。儀器具有以下優(yōu)點： 1.采用強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料制成，表面經(jīng)陽氧化處理,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹，使用壽命長。采用數(shù)字式光率計測量光強，測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。2.有黑色遮光罩擋光，可在明光及通風條件下做光學實驗，在同實驗室各組實驗互不干擾。

　　應用本儀器可以成以下實驗：

　　1．在沒有光照時，太陽能電池作為個二器件，測量在正向偏壓時該二器件的伏安性曲線，并求出其正向偏壓時，電壓與電關(guān)系的經(jīng)驗公式。

　　2．測量太陽能電池的短路電、開路電壓、大輸出率及填充因子。

　　3．測量太陽能電池的短路電、開路電壓與相對光強的關(guān)系，求出它們的近似函數(shù)關(guān)系。

　　本儀器可用于校、中、職校基礎(chǔ)物理實驗及性、研究性的物理實驗，也可用于物理奧林匹克競賽培訓用。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1．光具座 鋁合金制，標尺長80.0cm，分度值1mm，燕尾形凸形導軌結(jié)構(gòu)。

　　2．滑塊二塊 燕尾形凹滑塊結(jié)構(gòu)，鋁合金制。

　　3．光源 率40W射燈形結(jié)構(gòu)。

　　4．帶探測器數(shù)字式光率計 量程有200uW和2mW二檔，三位半液晶顯示。

5.固體介質(zhì)折射率測定儀      型號；HAD-FD-OE-3

折射率是反映介質(zhì)光學性質(zhì)的重要參數(shù)之。本儀器采用的實驗方法，在光學測量中具有典型性和基本要求的點。用測布儒斯角的方法測量透明介質(zhì)的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數(shù)方法，測量分半導體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。本儀器具有體積小，重量輕，調(diào)節(jié)方便，裝置牢靠，實驗數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠等優(yōu)點。本儀器可用于基礎(chǔ)物理實驗，性與研究性物理實驗及物理奧林匹克競賽培訓實驗用。本儀器具有以下優(yōu)點：

　　1.采用強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料制成，表面經(jīng)陽氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹，使用壽命長。

　　2.帶有刻度的轉(zhuǎn)盤經(jīng)心和，轉(zhuǎn)動輕巧靈活，讀數(shù)準確。

　　3.采用數(shù)字式光率計測量偏振光光強，測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。

　　4.有黑色遮光罩擋光，可在明光及通風條件下做光學實驗，在同實驗室各組實驗互不干擾。

　　應用本儀器可以成以下實驗：

　　1. 光的偏振現(xiàn)象的觀察和分析，加深對光偏振規(guī)律的認識。掌握獲得線偏振光的知識及確定偏振片偏振方向的方法。

　　2. 用布儒斯定律，測量對可見光透明固體材料的折射率。

　　3．通過測量偏振光二個分量入射到介質(zhì)上反射光的反射系數(shù)，測量半導體硅等材料的折射率。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1. 半導體激光器 波長650nm，率 1.5-2.0mW，作電壓3V。

　　2. 轉(zhuǎn)盤 直徑為2.0cm，可調(diào)范圍0-360°，分度值1°。

　　3．水平光學轉(zhuǎn)臺 可 0-360゜轉(zhuǎn)動，分度值 1°。

　　4．數(shù)字式光率計 量程有200uW和2mW二檔，三位半液晶顯示。

 溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對應的