型號(hào)：TP-WSG-1

電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)裝干涉實(shí)驗(yàn)裝置

描述：本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測(cè)定其離面位移的新型，的測(cè)試。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。
該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、度、靈敏性好、非接觸、暗房操作，實(shí)時(shí)顯示場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn)，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。

廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間
2024-04-13
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電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)裝干涉實(shí)驗(yàn)裝置型號(hào)：TP-WSG-1

本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測(cè)定其離面位移的新型，的測(cè)試。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。

該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、度、靈敏性好、非接觸、暗房操作，實(shí)時(shí)顯示場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn)，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。

儀器點(diǎn)：

自己調(diào)節(jié)光路，可提動(dòng)手能力；

采用了處理光學(xué)信息的CCD測(cè)量

計(jì)算機(jī)處理圖象，軟件操作簡(jiǎn)便

可利用軟件畫出測(cè)試表面受力變形后的三維立體圖。

成套性：

CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、調(diào)整架、光學(xué)零件、被測(cè)樣品。

：www.51658042.com

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