導(dǎo)電型號檢測儀 型號：KDK-STY-3

KDK-STY—3型導(dǎo)電型號檢測儀是嚴格按照標GB/T1550-1997和ASTM  F42（非本征半導(dǎo)體村料導(dǎo)電類型的標準測試方法）中的熱探針及整導(dǎo)電類型測試方法的導(dǎo)電類型鑒別儀。

本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內(nèi)，冷熱探筆在半導(dǎo)體材料上產(chǎn)生的熱電動勢及整法產(chǎn)生的電勢差經(jīng)低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后，用液晶顯示器件（LCD）及檢計示型號方向。儀器靈敏度分、低兩檔，可判別大分非本征半導(dǎo)體材料型號（從阻單晶到重摻單晶）。

二、性能

1、可判別鍺、硅著料的電阻率范圍：

鍺：非本征鍺10³～10^?4Ω·cm

硅：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

經(jīng)內(nèi)外實驗證明：在室溫情況下，熱電法對于電阻率低于1000Ω·cm的硅單晶整法結(jié)果可靠。

2、鍺、硅單晶直徑及長度：不受限制

3、顯示方式：由顯示N和P的液晶器件直接示，同時中心刻度為零位檢計也在示型號，針向左偏轉(zhuǎn)被測樣品為N型，針向右偏轉(zhuǎn)被測樣品為P型。

5、探針：用ASTM F42標準中建議的不銹鋼作冷熱探針材料，針尖為60℃錐體，熱筆溫度自動保持在50?60℃范圍內(nèi)，冷筆與室溫相同。整法行選用硬質(zhì)合金作探針。

6、電源及耗：AC 220V±10%，50HZ交供電，zui大耗（熱筆加熱狀態(tài)）小于40W，平均耗≈10W。

7、外型尺寸：370×320×110（mm）

8、重量：約 4 kg

四探針電阻率儀 型號：KDK-KDY-4

KDK-KDY-4型四探針電阻率儀嚴格按照硅片電阻率測量的際標準（ASTM F84）及家標準制，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改。整套儀器有如下點：
1、配有雙數(shù)字表：塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另塊數(shù)字表適時監(jiān)測過程中的電變化，使操作更簡便，測量更。
數(shù)字電壓表量程：0—199.9mV 靈敏度：100μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±（0.4-0.5%讀數(shù)+0.1%滿度）
2、可測電阻率范圍：10—3 —1.9×103Ω·cm。
可測方塊電阻范圍：10—2 —1.9×104Ω/□。
3、設(shè)有電壓表自動復(fù)零能，當四探針頭1、4探針間未有測量電過時，電壓表零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電渡過單晶時，電壓表才示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、經(jīng)硅片的測量電由度穩(wěn)定（分之五度）的制恒源提供，不受氣候條件的影響，整機測量度＜3%。
電量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10次），在緣電阻、電容量方面留有更大的安系數(shù)，提了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、四探針頭采用際上的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測量重復(fù)性提

四探針電阻率儀

振動壓實試驗機 型號：HYL8-ZYC-2

振動壓實試驗機 

本儀器是采用表面振動壓實法測定無粘性自由排水粗粒土和巨粒土（包括堆石料）的zui大干密度的試驗儀器。  
1、電源電壓：380V； 
2、耗電率：≤looow； 
3、振動頻率：47.5Hz； 
4、激振力二2.5-4.2KN； 
5、夯板作用在試樣表面靜壓力：13、8Kpa； 
6、試筒規(guī)格：鋁制大筒個內(nèi)徑280mm，鋁制小筒個內(nèi)徑152mm；

振動壓實試驗機 

四探針電阻率測定儀 型號：KDK-KDY-1A

四探針電阻率測定儀

概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的際及家標準測試方法有關(guān)規(guī)定。
它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測量電及阻率。樣品測試電由寬的恒源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不過±3%，在此范圍內(nèi)達到家標準機的水平。

四探針電阻率測定儀

四探針電阻率儀  型號：KDK-KDY-1

四探針電阻率儀是用來測量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的點是主機配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另塊數(shù)字表（以分之幾的度）適時監(jiān)測程的電變化，免除了測量電/測量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時掌控測量電。主機還提供度為0.05%的恒源，使測量電度穩(wěn)定。本機配有恒源開關(guān)，在測量某些箔層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生，地保護箔膜。儀器配置了本公司的產(chǎn)品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準確度。本機如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器，測量硅片時可自動行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的zui大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測量帶來很大方便。

四探針電阻率儀